1. 微束分析国家标准汇编2023（中）/¥360.00  ISBN：9787502652517

作者：全国微束分析标准化技术委员会，中国科学院化学研究所，中国标准出版社 编

出版社：中国标准出版社

出版时间：2024-02-01

ISBN：9787502652517

版次：1

包装：平装

开本：16开

页数：625

字数：1192000

正文语种：中文

内容简介：本书内容涵盖了电子探针、扫描电镜、电子显微镜等主要微束分析仪器的校准规范，测试方法、数据处理等内容，为微束分析实验室提供了权威的参考依据。本书不仅适合于各科研院所、大专院校从事微束分析技术研究和应用的专业人员参考查询，也适合于各实验室和检验检测机构的从业人员，以及行业相关领域的教师、学生、工程师等阅读参考。

目录

一、微束分析 能量色散x射线光谱学

GB/T 23413—2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定X射线衍射线宽化法

GB/T 17359—2012 微束分析能谱法定量分析

二、微束分析电子背散射衍射

GB/T 19501—2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则

GB/T 30703—2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则

GB/T 34172—2017 微束分析 电子背散射衍射金属及合金的相分析方法

GB/T 38532—2020 微束分析 电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定

GB/T 41076—2021 微束分析 电子背散射衍射钢中奥氏体的定量分析

三、表面化学分析一般程序

GB/T 28894—2012 表面化学分析 分析前样品的处理

GB/T 29556—2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 30815—2014 表面化学分析 分析样品的制备和安装方法指南

GB/T 32565—2016 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录与报告的规范要求

GB/T 33502—2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求

GB/T 34174—2017 表面化学分析 工作参考物质中离子注入产生的驻留面剂量定值的推荐程序

四、表面化学分析 数据管理与处理

GB/T 19499—2004 表面化学分析 数据传输格式

GB/T 21007—2007 表面化学分析 信息格式

GB/T 36052—2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传输格式

五、表面化学分析深度剖析

GB/T 20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法

GB/T 29557—2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量

GB/T 32999—2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率

GB/T 34326—2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

GB/T 41064—2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

六、表面化学分析 二次离子质谱

GB/T 20176—2006 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

GB/T 22572—2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

GB/T 25186—2010 表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

GB/T 32495—2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

GB/T 40129—2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

GB/T 40109—2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法

七、表面化学分析辉光放电光谱

GB/T 19502—2004 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则

GB/T 22462—2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法

GB/T 29559—2013 表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析

GB/T 32996—2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析 金属氧化物膜

GB/T 33236—2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

GB/T 32997—2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱 定量成分深度剖析的通用规程

(共计33项国家标准，按标准体系排序)